时间：2023年10月17日（星期二）14：00—16：00,
　　地点：图书馆第二会议室
　　主要内容：
　　1. X射线衍射技术的最新进展 陈京一 X射线衍射仪资深应用专家
　　X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射会产生不同程度的衍射现象，物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。所以X射线衍射仪是确定样品物相和晶形结构的必备分析手段。
　　本次讲座主要介绍X射线衍射仪的在科学研究，尤其是材料、化学、化工、环境、药品等应用方向和技术最新进展。
　　2. X射线荧光光谱分析技术及应用 薛石雷 X射线产品资深顾问
　　X射线荧光光谱仪器是一种快速的、非破坏式的物质测量方法，主要用于测量样品的主含量及微量含量的元素组成，也可以进行单层、多层薄膜、镀层的元素测定和膜厚测定。主要特点为测试速度快、前处理简单且无污染、样品无损。
　　本次讲座主要介绍X射线荧光光谱技术的原理和在科研中的应用。
　　报告人简介：
　　陈京一 X射线衍射仪资深应用专家
　　1982年于中国科学技术大学地球与空间科学系地球化学专业获得理学学士学位，1985年于中国科学院上海冶金研究所（现微系统所）获得工学硕士学位，硕士期间师从中国著名X射线晶体学家许顺生先生。1985年至1995年上海冶金所从事研究工作，1995年加入飞利浦分析仪器事业部工作至今，现为马尔文帕纳科公司XRD资深应用专家。
　　薛石雷 X射线产品资深顾问
　　从事X射线分析仪的销售管理、应用支持、产品支持等工作超过20年，曾任原帕纳科公司中国区经理，原帕纳科亚太应用实验室经理，马尔文帕纳科交叉业务发展经理等职。现为帕纳科公司资深顾问及产品专家。
　　欢迎广大师生前来聆听！